近日，*質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布《低本底α和/或β測(cè)量?jī)x型式評(píng)價(jià)大綱》征求意見(jiàn)稿，并向全國(guó)的計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)、科研院所以及相關(guān)的行業(yè)企業(yè)征求意見(jiàn)。

       該型式評(píng)價(jià)大綱適用于采用固體閃爍探測(cè)器和半導(dǎo)體探測(cè)器測(cè)量弱α、β放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，也適用于多用途儀器中弱α或β放射性的部分。不適用于流氣正比計(jì)數(shù)器以及液體閃爍計(jì)數(shù)器和測(cè)量α或β能譜類型等儀器的型式評(píng)價(jià)。

       據(jù)了解，評(píng)價(jià)大綱主要起草單位有中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院。該型式評(píng)價(jià)大綱為*發(fā)布，依據(jù)JJG 853—2013《低本底α、β測(cè)量?jī)x》和GB/T 11682—2008《低本底α和/或β測(cè)量?jī)x》文件中的條款，根據(jù)JJF 1002—2010《*計(jì)量檢定規(guī)程編寫(xiě)規(guī)則》、JJF1016—2014《計(jì)量器具型式評(píng)價(jià)大綱編寫(xiě)導(dǎo)則》和JJF1015—2014《計(jì)量器具型式評(píng)價(jià)通用規(guī)范》的要求制訂而成。

       該大綱所涉及的低本底α、β測(cè)量?jī)x，主要用于環(huán)境樣品、飲用水樣品、藥樣品、同位素生產(chǎn)等輻射領(lǐng)域中α、β的活度測(cè)量。該裝置主要由主探測(cè)器、反符合探測(cè)器、屏蔽體、測(cè)量和數(shù)據(jù)處理單元以及 計(jì)算機(jī)部件組成。

       該大綱所述低本底α和/或β測(cè)量?jī)x，按測(cè)量放射性對(duì)象可分為：只測(cè)量α粒子的低本底α測(cè)量?jī)x，只測(cè)量β粒子的低本底β測(cè)量?jī)x，既測(cè)量α粒子又測(cè)量β粒子的低本底α和β測(cè)量?jī)x（或低本底αβ測(cè)量 儀）。按可同時(shí)放置樣品的數(shù)量可分為單樣品道測(cè)量?jī)x、多樣品道測(cè)量?jī)x。 按使用場(chǎng)合分為在實(shí)驗(yàn)室使用的固定式和在車(chē)船上使用的車(chē)船載移動(dòng)式或便攜式。 

       被測(cè)樣品中的α或β粒子進(jìn)入該儀器主探測(cè)器，其使用的閃爍體是專為其設(shè)計(jì)的α、β閃爍體，當(dāng)α粒子進(jìn)入閃爍體時(shí)，將全部的能量損失在ZnS(Ag)材料上，引起閃爍發(fā)光且發(fā)光時(shí)間較長(zhǎng)，從而在光電倍 增管上產(chǎn)生一個(gè)脈沖寬度較寬的α信號(hào)。β粒子穿透能力較強(qiáng)，它穿過(guò)ZnS(Ag)材料進(jìn)入β閃爍物質(zhì)，也引起閃爍體發(fā)光，但是發(fā)光時(shí)間較短，這時(shí)光電倍增管也產(chǎn)生一個(gè)脈沖寬度較窄的β信號(hào)。當(dāng)來(lái)自主探測(cè)器的信號(hào)進(jìn)入主機(jī)后，主機(jī)對(duì)其信號(hào)進(jìn)行處理。對(duì)噪聲信號(hào)和電源紋波進(jìn)行甄別，對(duì)宇宙射線和環(huán)境輻射進(jìn)行反符合處理，而對(duì)α信號(hào)和β信號(hào)進(jìn)行時(shí)幅變換，再在多道上顯示其結(jié)果。 

       在編寫(xiě)中，該大綱參考了GB/T 11682—2008《低本底α和/或β測(cè)量?jī)x》；JJG 853—2013《低本底α、β測(cè)量?jī)x》；JJF 1016—2014《計(jì)量器具型式評(píng)價(jià)大綱編寫(xiě)導(dǎo)則》；JJF 1015—2014《計(jì)量器具型式評(píng)價(jià)通用規(guī)范》； GB/T 19661.1—2005 《核儀器及系統(tǒng)安全要求第 1 部分：通用要求》；JJF 1001—2011《通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義》； GB/T 6587—2012《儀器通用規(guī)范》；GB/T 12726.2—2006 《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)》；GB/T 12726.3—2006《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》；GB/T 12726.4—2008《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》；GB/T 12726.5—2008《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》；GB/T 12726.6—1998《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》； GB/T 12726.11—2008《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》。

       此外，應(yīng)遵從JJF1071-2010《*計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)規(guī)則》的要求，此規(guī)范架構(gòu)上包括封面、扉頁(yè)、目錄、引言、范圍、引用文件、概述、計(jì)量特性、校準(zhǔn)條件、校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法、校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)、復(fù)校時(shí)間間隔、附錄幾個(gè)部分。